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    英國ABI-3400三維立體V-I-F動態阻抗分析儀


    英國ABI-3400三維立體V-I-F動態阻抗分析儀

     


    特點:

     

    三維立體V-I-F曲線測試儀
    變頻掃描V-I-F曲線測試儀
    專業級V-I-F曲線測試儀

     

    英國ABI-3400三維立體V-I-F動態阻抗分析儀

     

    靜態診斷電路板, 不必外加電源即可進行測試。
    檢測電路板上受損器件。
    可檢測出具有泄漏型故障的器件。
    可檢測出不相同的器件。
    將損壞風險降至最低。
    具多通道測試(64通道), 可減少測試時間。

     

    ABI-3400三維立體V-I-F動態阻抗分析儀

     

    可在靜態條件下分析器件及整板測試采用獨特的測試方法, 測量電氣信號曲線, 偵測錯誤/瑕疵問題, 包含內部損壞器件與不一致器件- 增加問題檢測范圍, 同時, 減少測試時間!

     

    何謂V/I曲線測試?

     

    對于模擬及數字電路板, V/I曲線測試是成熟、可靠的解決方案。
    透過一個限流電阻器, 施加AC電壓到一個測試點時, 測量因此產生之電流, 并將結果繪制成一個電壓/電流圖形, 即顯示該測試點的特性曲線。

     

    分析V/I曲線,通常是與一參考點作比較,而檢測如下問題:

     

    漏電流器件。
    內部受損器件。
    錯誤數值的器件。
    不一致的器件。
    短路與開路。

     

    變頻掃描方式---增加問題查找范圍!

     

    ABI-3400模塊, 通過改變V/I信號的AC電壓的頻率, 而增加問題檢測范圍, 其產生的曲線, 繪制在一個3D窗口內, 能讓使用者觀察到整個頻率范圍上的V/I曲線變化, 進而找到標準V/I分析方法看不見的問題。

     

    英國ABI-3400三維立體V-I-F動態阻抗分析儀

     

    矩陣式掃描V/I----- 增加問題查找范圍!

     

    ABI-3400模塊也可使用矩陣式掃描獲得V/I曲線, 而增加問題檢測范圍。在這個模式時, ABI-3400模塊是在參考所有其它有效管腳(不同于標準V/I測試中只有一個參考管腳)的情形下, 獲得一個器件或電路板每個管腳的V/I曲線。如此,便能產生豐富的數據組(一個20腳器件400條曲線), 足以檢測出最不易查找的故障。

     

    英國ABI-3400三維立體V-I-F動態阻抗分析儀

     

    靜態測試=安全測試!

     

    被測電路板是在靜態測試下擷取曲線, 這降低了器件在測試當中受損的機率, 容許半熟練的操作人員執行初步測試。更重要的是,即使是完全”閑置”的電路板, 也能作測試診斷!

     

    多通道=更快速的測試!

     

    ABI-3400模塊配備64個測試信道(可擴充), 可測試大規模器件、甚至整個電路板的曲線(例如, 透過一個轉接連接頭), 這可大幅減少測試所需時間,快速診斷各種電路板,而無須檢查每個管腳。

     

    測試功能

     

    ABI-3400模塊提供多種形式的V/I曲線測試及可設定的參數, 可擴大其應用范圍及增加測試范圍, 包括:
    變頻掃描進行V/I曲線測試。
    設定頻率進行掃描的V/I曲線測試。
    矩陣式掃描進行V/I測試。
    脈沖輸出進行的動態V/I測試。

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